GP Solar zeigt auf der Intersolar das optische Inspektionssystem GP TEX-Q Scan, das die Textur von mono- und multikristallinen Wafern überprüft. Das Inspektionssystem erkennt Fehlerstellen auf der Waferoberfläche, die bei nasschemischen Prozessen entstehen können. Die sogenannte On-the-fly-Messung findet in der Bewegung statt und hat einen Durchsatz von einem Wafer pro Sekunde. Des Weiteren stellt das Unternehmen das Messgerät GP ISO-TEST Waf vor. Es überprüft den Isolationswiderstand zwischen Vorderseite und Rückseite von diffundierten Wafern nach einer chemischen Kantenisolierung. Ein Benutzerdisplay ist in das Gehäuse integriert.
© Foto: GP Solar
